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Fresadora iônica ArBlade 5000
O ArBlade 5000 é um modelo de alto desempenho para o triturador iônico Hitachi. Realiza uma moagem em secção de alta velocidade. A função de processam
Detalhes do produto
Fresadora iônica ArBlade 5000
O ArBlade 5000 é um modelo de alto desempenho para o triturador iônico Hitachi.
Realiza uma moagem em secção de alta velocidade.
A função de processamento de seção de alta eficiência facilita o processamento de amostras durante a observação de seções de eletroscópio.
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Características
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Especificações
Características
Velocidades de moagem em secção até 1 mm/h*1！
A nova pistola de íons PLUSII lança feixes de íons de alta densidade de corrente, melhorando significativamente*2velocidade de moagem.
- *1
- Si destaca a borda da placa de proteção de 100 µm, profundidade máxima de processamento de 1 hora
- *2
- A taxa de moagem é o dobro dos nossos produtos (IM4000PLUS: produção 2014)
Comparação de resultados de moagem em secção
(Amostra: núcleo de lápis automático, tempo de moagem: 1,5 hora)
Produtos da empresa IM4000PLUS
ArBlade 5000
Largura máxima de corte até 8 mm!
Usando um banco de amostras de moagem em secção ampla, com largura de processamento de até 8 mm, é muito adequado para a moagem de componentes eletrônicos e outros.
Moedor composto
A série IM4000 de molhadores de íons compostos (moagem em secção, moagem plana) é amplamente apreciada.
As amostras podem ser pré-tratadas conforme necessário.
Moeamento em secção
Corte ou moagem mecânica para fazer secções de materiais macios ou compostos difíceis de lidar
Moção plana
Reparação ou limpeza de superfície de amostras após moagem mecânica
Esquema de processamento de moagem em secção
Esquema de processamento de moagem plana
Especificações
| Geral | |
|---|---|
| Utilização de gás | Ar(argão)gás |
| Tensão acelerada | 0～8 kV |
| Moeamento em secção | |
| Velocidade de moagem mais rápida (material Si) | 1 mm/hr*1acima de 1 mm/h*1 |
| Largura máxima de moagem | 8 mm*2 |
| Tamanho máximo da amostra | 20(W) × 12(D) × 7(H) mm |
| Área de movimento da amostra | X ± 7 milímetros, Y 0 ~ + 3 milímetros |
| Função de processamento intermitente de feixe de íons | Configuração padrão |
| Ángulo de oscilação | ±15°, ±30°, ±40° |
| Moção plana | |
| Máxima gama de processamento | φ32 mm |
| Tamanho máximo da amostra | φ50 × 25(H) mm |
| Área de movimento da amostra | X 0～+5 mm |
| Função de processamento intermitente de feixe de íons | Configuração padrão |
| Velocidade de rotação | 1 r/m、25 r/m |
| Ángulo de inclinação | 0～90° |
- *1
- Si destaca a borda da placa de proteção de 100 µm, profundidade máxima de processamento de 1 hora
- *2
- Quando o banco de amostra é moído com uma seção ampla
Opção
| Projetos | Conteúdo |
|---|---|
| Proteção de alta resistência ao desgaste | As placas de proteção resistentes ao desgaste são cerca do dobro das placas de proteção padrão (sem cobalto) |
| Microscópio para monitoramento de processamento | Ampliação 15 x a 100 x Bi-ocular, Triocular (CCD) |
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